核心參數(shù)：
樣品臺移動范圍：13mm*13mm
樣品尺寸：直徑≤100mm, 厚度≤20mm
定位檢測噪聲：Z≤0.03(typical) 0.05(maximum)
產(chǎn)地類別：進口儀器
高性能
在同級產(chǎn)品中，Park XE7能夠帶來很高的納米級分辨率的測量效果。得益于獨特的原子力顯微鏡架構(gòu)，即獨立的XY軸和Z軸柔性掃描器，XE7能夠?qū)崿F(xiàn)平滑、正交且線性的掃描測量，從而精準成像和測量樣品的特征。此外，Park的True
Non-Contact?模式還能為您帶來新的圖像效果，探針可以在多次掃描后圖像的分辨率仍不會受影響。
滿足需求
Park XE7帶有很全的測量模式。XE7的設(shè)計，允許您整合其他附件和儀器，從而滿足您特殊的研究需求。
易于使用和高生產(chǎn)率
Park
XE7擁有簡潔的圖形用戶界面和自動化工具，即便是初學(xué)者也可以快速地完成對樣品的掃描。無論是預(yù)準直探針、簡單的樣品和探針更換、輕松的激光準直、自上而下的同軸視角以及用戶友好型掃描控制和軟件處理，XE7能夠推動研究效率的提高。
延長使用壽命
XE7在細節(jié)的設(shè)計上也相當用心，Park XE7中所搭載的True
Non-Contact?模式讓用戶無需頻繁更換探針尖.端，并且它配有很多的掃描模式，兼容性優(yōu)良，讓您可隨時升級系統(tǒng)功能，從而延長產(chǎn)品的使用壽命。
技術(shù)參數(shù)
XY掃描器
閉環(huán)控制式單模塊柔性XY掃描器。
掃描范圍: 50 μm × 50 μm (可選
100 μm×100 μm, 10 μm×10 μm )
Z掃描器
l 柔性引導(dǎo)高力度掃描器
掃描范圍: 12 μm (可選 25
μm)
樣品臺
XY臺工作范圍: 13 × 13 mm
Z臺工作范圍: 29.5 mm
聚焦臺工作范圍: 70 mm
光學(xué)系統(tǒng)
可觀察樣品和探針的直視同軸光學(xué)系統(tǒng)
10X 物鏡 (可選20X）
l 視場: 480 × 360 μm
l CCD: 1M像素（像素分辨率: 0.4 μm）
電路系統(tǒng)
高性能DSP : 600 MHz with 4800
MIPS
*大圖像尺寸: 4096 x 4096像素,
16個數(shù)據(jù)圖像
信號輸入：在500kHz取樣時,
16位ADC的20個通道
信號輸出：在500kHz取樣時,
16位ADC的21個通道
同步信號：圖像結(jié)束, 線結(jié)束及像素結(jié)束TTL信號
主動Q控制(選配)
懸臂梁彈性常數(shù)校準(選配)
CE Compliant
電源 : 120 W
信號處理模塊 (選配)
